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兩箱式冷熱沖擊試驗箱TS2

冷熱沖擊試驗箱用于測試各種材料在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。主要應用于半導體芯片、科研院校、質(zhì)檢、新能源、光電通訊、航空航天、汽車行業(yè)、LCD顯示、醫(yī)療等科技產(chǎn)業(yè)。

產(chǎn)品型號:TS系列
產(chǎn)品展商:

產(chǎn)品留言

    【產(chǎn)品介紹】

    冷熱沖擊試驗箱用于測試各種材料在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。主要應用于半導體芯片、科研院校、質(zhì)檢、新能源、光電通訊、航空航天、汽車行業(yè)、LCD顯示、醫(yī)療等科技產(chǎn)業(yè)。


    【產(chǎn)品參數(shù)

    1、溫度范圍:-40~+150

                         -65~+150

    2、溫度偏差:±2.0℃

    3、內(nèi)箱容積:80L、150L、225L


    【運作原理】

    兩箱式冷熱沖擊試驗箱又稱提籃式冷熱沖擊試驗箱,分為高溫室和低溫室,通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換,產(chǎn)品放提籃里。



    【產(chǎn)品特點】

    1、品質(zhì)保障。設備統(tǒng)一按照國際標準生產(chǎn),關鍵器件采用進口產(chǎn)品,保證設備質(zhì)量;

    2、精心設計。功能齊全、外觀大氣、結構清晰、操作簡易、穩(wěn)定可靠;

    3、設備應用。適用于當前電子產(chǎn)品測試、研究,以及半導體生產(chǎn)線大量篩選試驗,可大大節(jié)約耗材測試費;

    4、操作簡易。10.4英寸觸控可程式彩色液晶顯示屏,操作簡易,狀態(tài)顯示、程序設定、故障排除等功能齊全,支持保存1000個自行編輯的實驗程序;

    5、全新設計。預約啟動功能,減少等待時間,可設定循環(huán)次數(shù)、自動除霜等;

    6、人性設計。蓄熱方式摒棄傳統(tǒng)液態(tài)氣體方式,避免職業(yè)傷害,測試槽完全靜止,可由測試孔外加負載配線;

    7、節(jié)能降噪。采用高標器件,節(jié)能省耗,低噪音設計,減少音污染。


    【參照標準】

    GB/T2423.1-2008試驗A低溫試驗方法
    GB/T2423.2-2008試驗B高溫試驗方法
    GB-T10592-2008高低溫箱技術條件
    GJB150.3-1986工業(yè)設備環(huán)境試驗方法:高溫試驗
    GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求


    【操作流程

    一、預處理:將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下,直至達到溫度穩(wěn)定。
    二、初始檢測:將被測樣品與標準要求對照,符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗箱內(nèi)即可。
    三、試驗:
    1、試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內(nèi),并將試驗箱內(nèi)溫度升到指定點,保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定,以時間長都為準。
    2、高溫階段結束后,在5min內(nèi)將試驗樣品轉換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗箱內(nèi),保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定,以時間長都為準。
    3、低溫階段結束后,在5min內(nèi)將試驗樣品轉換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗箱內(nèi),保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定,以時間長都為準。
    4、重復上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小,時間可能會略有誤差。
    四、恢復:試驗樣品從試驗箱內(nèi)取出后,應在正常的試驗大氣條件下進行恢復,直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。
    五、結尾檢測:對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結果評定。

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