實(shí)驗(yàn)室加速老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)|廣東宏展科技有限公司

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  PCB透過(guò)HAST進(jìn)行離子遷移與CAF的加速試驗(yàn)

  May 04-2024

  PCB為確保其長(zhǎng)時(shí)間使用質(zhì)量與可靠度，需進(jìn)行SIR (Surface Insulation Resistance)表面絕緣電阻的試驗(yàn)，透過(guò)其試驗(yàn)方式找出PCB是否會(huì)發(fā)生MIG(離子遷移)與CAF(玻纖紗陽(yáng)極性漏電)現(xiàn)象，離子遷移與是在加濕...

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